X線回折法では、結晶性物質の化合物形態を知ることができます。
粉末試料は耳かき一杯程度の量で含有物質の形態を決めることができます。
板状試料でも測定ができます。
Co(コバルト)管球搭載のX線回折装置「PANALYTICAL製X’pert PRO MPD」を導入いたしました。
X線回折装置は、一般に広くCu(銅)管球が搭載されています。
ところがCu管球は、Fe(鉄)を多く含む試料を測定する際にバックグラウンドが上がり、測定ピークが小さくなるという特性があります。
図の赤いラインはCo管球搭載のX線回折装置でスチールを測定したもの(Cu管球の測定結果と2θが揃うよう変換したデータ)、青いラインはCu管球搭載のX線回折装置でスチールを測定したものです。
明らかにCo管球搭載装置による測定結果(赤いライン)の方がバックグラウンドが低く、測定ピークが大きくなっています。
Co管球搭載のX線回折装置は、Feを含む試料の測定に有利です。
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PANALYTICAL製 X'PertPRO
測定装置 | |
PANALYTICAL製 X'PertPRO | Cu(銅)管球搭載 |
PANALYTICAL製 X'PertPRO | Co(コバルト)管球搭載 |
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