|
|
|
|
|
|
|
> > > X線分析の進歩 19
|
|
|
X線分析の進歩 19 (X線工業分析23集)
日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編
1988年3月31日 初版1刷
ISBN ―
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/353頁
定価 4,950円(本体価格4,500円+税 10%)
→厚さ:24mm,重さ:830g
|
本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。 |
[目次]
T.蛍光X線スペクトル:総説
1.蛍光X線スペクトルのサテライトの化学結合効果 (河合 潤・合志陽一・二瓶好)
U.X線スペクトルによる状態分析:報文
2.ゾルゲル法で作成したTiO2-SiO2非晶質粉末の蛍光X線による状態分析 (秋山弘行・前川 尚・横川敏雄)
3.SR蛍光X線法による吸収端化学シフトの測定 (桜井健次・飯田厚夫・合志陽一)
4.高分解能SiKα線によるシリコン酸化物系蒸着膜の化学構造の解析 (小西徳三・根木一彌・藤澤謙二・福島 整・合志陽一)
5.SiKβ線によるSiO蒸着膜の組成分析 (小西徳三・根木一彌・福島 整・合志陽一)
V.EXAFSによる状態分析:報文
6.EXAFSによる触媒活性種構造の解析 (吉田郷弘・田中庸裕)
7.触媒上の白金のEXAFSによる研究 (石川典央・渋谷忠夫・村川 喬・田久敏行・竹下安弘)
8.水溶液中のTi(・), Ti(・)及びその混合原子価錯体のEXAFS及びXANES (宮永崇史・松林信行・渡辺 巌・池田重良)
W.XPS分析:総説
9.XPSによる高機能性工業材料の分析 (石谷 炯・福田尚央・添田房美・高萩隆行・中山陽一)
10.XPSによる触媒表面の分析 (岡本康昭)
X.XPS分析:報文
11.XPSによる炭素過剰TiCのアルゴンイオンスパッタリング効果の研究 (西村興男・矢部勝昌・岩木正哉)
Y.微量分析:報文
12.蛍光X線法による高融点ホウ化物, 炭化物, 窒化物中の含有不純物の定量 (金子啓二・熊代幸伸・平林正之)
13.点滴濾紙蛍光X線分析法の粉末試料への適用 (尾松正之・虫本修二・村田充弘)
14.LiX試薬を含むPVC膜法による水中微量金属の蛍光X線分析 (山田 武・加藤純治・山田 悦・佐藤昌憲)
15.全反射蛍光X線分析法による酸化チタン顔料中の微量成分分析 (野村恵章・二宮利男・谷口一雄)
16.全反射蛍光X線分析法による微細プラスチック片中の成分分析 (二宮利男・野村恵章・谷口一雄)
17.全反射蛍光X線分析法による水溶液中の微量元素分析 (今北 毅・木村 淳・西萩一夫・猪熊康夫・谷口一雄)
Z.環境・生体試料などの蛍光X線分析:報文
18.土壌の蛍光X線分析―京都周辺の土壌の地域差について (平岡義博)
19.エネルギー分散方蛍光X線分析装置によるヒト胆石および魚骨の分析 (山本郁男・伊藤 誠・成松鎮男・鈴木範美)
[.薄膜X線回折:報文
20.半導体薄膜の極点図形 (刈谷哲也・高倉秀行・浜川圭弘)
21.薄膜X線回折法の応用 (片山道雄・清水真人)
\.装置:報文
22.ソーラースリットを用いた平行法の光学系 (新井智也)
23.蛍光X線分析の自動化 (河野久征・村田 守・片岡由行・新井智也)
].既掲載X線回折図形索引
]T.1986年X線分析のあゆみ
1.X線分析関係文献集
2.X線分析関係国内講演会開催状況
3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
4.X線分析研究懇談会規約
5.「X線分析の進歩」投稿手引き
6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1988年度幹事名簿
7.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い
]U.X線分析関係機器資料
|
|
|
|
|
|
|
株式会社 アグネ技術センター
〒107-0062 東京都港区南青山5-1-25 北村ビル TEL03-3409-5329(代表)/FAX03-3409-8237
©
AGNE Gijutsu Center Inc., 2011-
|
|