Ｘ線分析の進歩　|　アグネ技術センター

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	Ｘ線分析の進歩 27 (Ｘ線工業分析 31集) 日本分析化学会・Ｘ線分析研究懇談会　編 1996年3月31日　初版1刷 ISBN　978-4-900041-47-9 C3043 発行　アグネ技術センター B5判・並製／353頁定価 6,050円（本体価格5,500円＋税 10%） →厚さ：23mm，重さ：920g
本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
［目次］ Ⅰ.Ｘ線の新たな応用：総説　　1. Ｘ線鏡面反射と放射光マイクロビームXRDについて　　　(宇佐美勝久・平野辰巳) 　　2. SPring-8による蛍光Ｘ線分析の新展開　　　(早川慎二郎・合志陽一) Ⅱ.蛍光Ｘ線分析：報文　　3. 蛍光Ｘ線によるBi-Pb-Sr-Ca-Cu-O系超伝導体の組成解析法　　　(金子啓二・平林正之・金子浩子・伊原英雄・寺田教男・岡邦彦・石橋章司・田中康資) 　　4. 超軽元素用エネルギー分散型検出器の開発とその応用(Ⅰ) 　　　(田村浩一・佐藤正雄) 　　5. 微小試料の面積補正法による定量分析　　　(古澤衛一・山田興毅・荒木庸一・森正道) 　　6. 全反射蛍光Ｘ線分析用標準試料に関する一考察　　　(森良弘・佐近正・島ノ江憲剛) Ⅲ.Ｘ線回折：報文　　7. Ｘ線回折法による合金化溶融亜鉛めっき鋼板の合金相の厚さ分析　　　　　―結晶質多層膜各層の厚さ分析法― 　　　(森茂之・松本義朗) 　　8. Zn-Cr電析合金の相構造解析　　　(藤村亨・片山道雄・下村順一) 　　9. Ge(111)4結晶平行法による2層薄膜の膜厚測定　　　(横川忠晴・大野勝美) 　　10. Ｘ線回折法によるストリート・ドラッグの由来類別　　　(南幸男・宮沢正・中島邦生・肥田宗政・三井利幸) 　　11. 粉末Ｘ線回折によるアデニンの結晶構造解析―圧力誘起相変態の解明― 　　　(倉橋正保・後藤みどり・本田一匡) 　　12. 粉末Ｘ線回折法による1,4-ベンゼンジチオールの結晶構造解析　　　(エルンストホルン・倉橋正保) Ⅳ.Ｘ線光電子分光分析：報文　　13. 種々の配位構造を有する亜鉛(Ⅱ)錯体のＸ線光電子およびオージェ電子スペクトル　　　(藤原学・松下隆之・池田重良) 　　14. C₆₀Ｘ線光電子スペクトルのC1sピーク形状解析　　　(飯島善時・佐藤智重・佐藤哲也・平岡賢三) 　　15. 放射光を光源とする励起エネルギー可変XPS深さ方向分析　　　(島田広道・松林信行・今村元泰・佐藤利夫・西嶋昭生) 　　16. 電解合成複合酸化物膜のXPSによる解析　　　(佐々木毅・越崎直人・松本泰道) Ⅴ.EPMA：報文　　17. 固体ターゲットにおける電子後方散乱及び特性Ｘ線発生分布の　　　　　モンテカルロ・シミュレーション　　　(小沼弘義) 　　18. 2元,3元散布図分析のEPMAデータ解析への応用　　　(高橋秀之・大槻正行・高倉優・近藤裕而・奥村豊彦) Ⅵ.状態分析：報文　　19. ムライト前駆体中のアルミニウムの配位数分析：XAFS法と²⁷Al MAS NMR法との比較　　　(池田好夫・横山拓史・山下誠一・渡部徳子・脇田久伸) 　　20. 蛍光XAFS法による生体鉱物の非破壊状態分析　　　(沼子千弥・中井泉) 　　21. 亜鉛流動焙焼炉焼鉱の硫黄の化学状態―焙焼炉操業に関連して― 　　　(河合潤・北島義典・朝木善次郎) 　　22. Ｘ線励起ルミネッセンス収量法XAFSにおける自己吸収効果　　　(広瀬勇秀・早川慎二郎・合志陽一) 　　23. PIXEスペクトル自動解析プログラムの開発と希土類鉱石分析への応用　　　(下岡秀幸・西山文隆・廣川健) Ⅶ.技術ノート　　24. 回折Ｘ線による顕微画像　　　(下村周一・中沢弘基) Ⅷ.既掲載Ｘ線粉末回折図形索引 Ⅸ.1994年Ｘ線分析のあゆみ　　1.Ｘ線分析関係文献集　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約　　5.「Ｘ線分析の進歩」投稿の手引き　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1995年度幹事委員名簿　　7.「Ｘ線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願いＸ.軟Ｘ線放射分光に関するワークショップ　　1.Theory of Molecular X-Ray Emission Spectroscopy 　　2.Analytical Expressions of Atomic Wave Functions and Molecular Integrals for the X-Ray Transition Probabilities of Molecules 　　3.B K-emission Spectra of Ion-plated Thin Film and Mechanically Milled Powders of Boron Nitride 　　4.Application of TXRF in Silicon Wafer Manufacturing ⅩⅠ.Ｘ線分析関連機器資料 ⅩⅡ.既刊総目次 ⅩⅢ.Ｘ線分析の進歩27　索引

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