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＞＞最先端分析とその応用

	最先端分析技術とその応用田口勇　編 1995年5月15日　初版1刷 ISBN　978-4-900041-40-0 C3043 発行　アグネ技術センター A5判・並製／323頁定価 3,300円（本体価格3,000円＋税 10%） →厚さ：16mm，重さ：490g
非破壊分析の進展、高精度化、作業の迅速化、省力化など期待されることは多い。著者は、現在最先端分析技術分野で活躍される第一線の研究者の方々である。単に手段紹介に留まらず、対象試料の幅広い応用について具体的な情報が得られる内容となっている。
［目次］刊行にあたって方法編　　1. グロー放電質量分析（GD-MS）　　2. 表面電離マススペクトロメトリーとガスクロマトグラフィー　　3. 放射化分析（AA）　　4. 質量分析計（MS）による全希ガス分析　　5. イオンビーム励起Ｘ線分析（PIXE 分析）　　6. SR を用いたＸ線CT（SR-XRF）の複合材料分析　　7．放射光蛍光Ｘ線分析（SR-XRF）　　8．全反射蛍光Ｘ線分析（TRXRF）　　9．ラザフォード後方散乱分光分析法（RBS）　　10．走査トンネル顕微鏡（STM）　　11．分析電子顕微鏡法（AEM）　　12．小型サイクロトロンを用いる分析法　　13．新しい超高感度元素分析法，ICP質量分析（ICP-MS）資料編　　14．レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法（LA-ICP-MS）によるセラミックス焼結体の直接分析　　15．エレクトロニクス素材　　16．考古学資料　　17．鉄鋼などの金属材料　　18．非鉄金属資料　　19．地球化学試料の分析　　20．宇宙（天体）試料の分析　　21．環境と分析化学機器分析略語集索引

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