Ｘ線分析の進歩　|　アグネ技術センター

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	Ｘ線分析の進歩 14 (Ｘ線工業分析18集) 日本分析化学会・Ｘ線分析研究懇談会　編 1983年4月30日　初版1刷 ISBN　― 発行　アグネ技術センター B5判・並製／226頁定価―――（本体価格4,500円＋税） →厚さ：14mm，重さ：540g
本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
［目次］ Ⅰ.Ｘ線回折基礎と応用　　1.Ｘ線回折の鉄鋼における応用　　　(北川孟) 　　2.パーソナル・マイクロコンピューターによる粉末Ｘ線回折データ検索その2 　　　(小坂雅夫) 　　3.CISによるＸ線データ検索端末の作成　　　(山門多賀・松崎尹雄) 　　4.Ｘ線回折自動検索システム―装置と手順― 　　　(小崎茂・吉沢和幸) 　　5.粉末Ｘ線回折図形のRietveld解析とシミュレーション　　　(泉富士夫) Ⅱ.けい光Ｘ線分析基礎と応用　　6.エネルギー分散EPMAによるチタン合金の分析　　　(高橋輝男・元山宗之・橋詰源蔵) 　　7.Ｘ線マイクロアナライザーへのマイクロコンピューターの応用　　　(刈谷哲也) 　　8.Cu-NH₄V0₃系の蛍光Ｘ線分析　　　(刈谷哲也・松岡清) 　　9.シリコーン中微量Clの蛍光Ｘ線法による定量―代用標準XRF法の検討― 　　　(竹村モモ子・平尾修・国谷譲治) 　　10.液体ナトリウム中に浸せきしたV-Mo合金の表面の蛍光Ｘ線分析　　　(藤原純・大野勝美・鈴木正) 　　11.点滴濾紙けい光Ｘ線分析法による酸化ジルコニウム中のハフニウムの定量　　　(村田充弘・尾松真之) 　　12.エネルギー分散型けい光Ｘ線分析法による含硫アミノ酸および蛋白質の定量　　　(太田顕成) Ⅲ.状態分析　　13.単結晶SiのEXAFS解析　　　(前山智・籔本周邦) 　　14.DV-Xα法分子軌道計算による軟Ｘ線スペクトルの解析　　　(谷口一雄・足立裕彦) Ⅳ.標準粉末Ｘ線回折図形　　1.標準粉末Ｘ線回折図形集 No.７　　2.既掲載Ｘ線回折図形索引 Ⅴ.1981年Ｘ線分析のあゆみ　　1.Ｘ線分析関係文献集　　2.Ｘ線関係著書紹介(1970年以降) 　　3.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況　　4.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況　　5.Ｘ線分析研究懇談会規約　　6.｢Ｘ線分析の進歩｣投稿手引き　　7.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会幹事名簿　　8.“標準粉末Ｘ線回折図形集”編集にご協力のお願い Ⅵ.既刊総目次 Ⅶ.Ｘ線分析関係機器資料

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