Ｘ線分析の進歩　|　アグネ技術センター

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	Ｘ線分析の進歩 32 (Ｘ線工業分析 36集) 日本分析化学会・Ｘ線分析研究懇談会　編 2001年3月30日　初版1刷 ISBN　978-4-900041-90-5 C3043 発行　アグネ技術センター B5判・並製／ 320頁定価 6,050円（本体価格5,500円＋税 10%） →厚さ：17mm，重さ：660g
本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
［目次］ Ⅰ.解説　　1. 遷移金属のLα,Lβスペクトルの化学結合効果　　　(河合潤) 　　2. 斜出射Ｘ線測定型の電子線プローブマイクロアナリシス　　　(辻幸一) 　　3. RIETAN-2000のLe Bail解析機能の検証と応用　　　(池田卓史，泉富士夫) Ⅱ.報文　　4. NiKα/NiKβ線を用いた2波長Ｘ線反射率法の検討　　　(宇佐美勝久，小林憲雄，平野辰巳，田島康成，今川尊雄) 　　5. EPMA用Cr/Sc多層膜分光素子の分光性能　　　(河辺一保，山田浩之，奥村豊彦) 　　6. 高分解能平行ビーム法による結晶格子の熱膨張測定　　　(光永徹，西郷真理，藤縄剛) 　　7. In-Plane回折法におけるプロファイル形状評価　　　(高瀬文，藤縄剛) 　　8. 種々のK,Ca化合物のKＸ線スペクトル変化　　　(星野公紀，玉木洋一) 　　9. VKβスペクトルの吸収端励起　　　(河合潤，原田真吾，岸田逸平，岩住俊明，片野林太郎，五十棲泰人，小路博信，　　　　　七尾進) 　　10. 斜入射蛍光Ｘ線法によるBST/SRO同時組成分析　　　(村上裕是，寺田慎一，古川博朗，西萩一夫) 　　11. 発光過程を識別した蛍光収量Ｘ線吸収スペクトル測定　　　(村松康司) 　　12. 軟Ｘ線を用いた弗化物のＫ吸収端の測定　　　(杉村哲郎，河合潤，前田邦子，福島昭子，辛埴，元山宗之，中島剛) 　　13. レイリー又はコンプトン散乱の理論強度で補正する定形外試料と窯業原料の　　　　　蛍光Ｘ線分析　　　(越智寛友) Ⅲ.技術報告　　14. 立命館大学小型放射光源におけるＸ線反射率測定ビームライン　　　(西勝英雄，宮田洋明，山田隆，谷克彦，岩崎博，山本安一，庄司孝，堂井真，　　　　　岩田周行) Ⅳ.既掲載Ｘ線粉末回折図形索引 Ⅴ.2000年Ｘ線分析のあゆみ　　1.Ｘ線分析関係文献集　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約　　5.「Ｘ線分析の進歩」投稿の手引き　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会2000年度運営委員名簿　　7.「Ｘ線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い Ⅵ.Ｘ線分析関連機器資料 Ⅶ.既刊総目次 Ⅷ.Ｘ線分析の進歩32 索引

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